3D Strumento di misura per il test della topografia della superficie di array di micromirror

Integra cinque funzioni fondamentali: microscopio con profondità di campo ultra elevata, strumento di misurazione delle immagini, analizzatore dello spessore dei film, strumento di misurazione delle coordinate e microscopio confocale.

La corsa della piattaforma XY è di 300 x 200 mm, la corsa dell'asse Z è di 100 mm.

Non è necessaria la regolazione della posizione, non è necessario allineare, può essere misurato in modo disordinato, supporta la rilevazione rapida di lotti.

Adatte per settori come l'elettronica, i semiconduttori, l'automotive, il settore medico, l'orologeria, la meccanica di precisione, la plastica e la gomma.

La serie KM è un dispositivo integrato multifunzione che integra cinque funzioni: microscopio con profondità di campo ultra elevata, strumento di misurazione delle immagini, analizzatore dello spessore dei film, sistema di coordinate tridimensionale e microscopio confocale. Può non solo misurare le dimensioni bidimensionali, ma anche rilevare le strutture tridimensionali, lo spessore dei film, la morfologia superficiale e la rugosità; i normali sistemi di imaging di fascia bassa possono misurare solo le dimensioni piane con funzioni semplici, bassa precisione e scarsa scalabilità.