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Dispositivo automatico di misurazione e imaging in sostituzione di più dispositivi singoli
Jiangsu, Repubblica Popolare CineseNanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Dispositivo automatico di misurazione e imaging in sostituzione di più dispositivi singoli
100.000,00 USD
1 Set
90.000,00 USD
2+ Imposta
Specifiche del prodotto
modelli di lenti laser
gamma di lenti laser
spessore pellicola
Profilo del prodotto
Personalizzazione
DisponibileServizio post-vendita
supporto tecnico onlineGaranzia
1 annoModel No.
KM-X5000ADigitare
strumento di misurazione otticooggetto di misura
3d dimensionaleGamma
0 ~ 300 millimetriRisoluzione
0.0007mmPrecisione
0.0007mmMetodo di misura
AutomaticoDispositivo di misura di precisione
Dispositivo di misurazione di precisioneCertificazione
ISOgamma di misurazione
300×200×100mmaccuratezza della misurazione dell'immagine della fotocamera
±0.7μmforza di misurazione della sonda (in n)
0.06illuminazione
luce coassiale, luce ad anello, luce a fessura, para inferiorepiattaforma xy viaggio/mm
300X200carico piattaforma xy
8 kgmodalità di guida della piattaforma xy
motore linearefocalizzare il movimento dell'asse z/mm
100Pacchetto di Trasporto
scatola di cartoneSpecifiche
personalizzatoMarchio
cathmaticOrigine
Repubblica Popolare CineseCaratteristiche principali
Integra cinque funzioni fondamentali: profilometro ottico, strumento di misurazione delle immagini, microscopio ad altissima profondità di campo, macchina di misurazione a coordinate e misuratore dello spessore dei film.
Supporta la misurazione di lotti di campioni posizionati casualmente, senza l'utilizzo di appositi supporti, e offre la possibilità di messa a fuoco manuale, nonché la commutazione manuale delle sorgenti luminose, delle lenti o delle sonde.
Offre un toolkit completo per l'elaborazione e la misurazione 3D: impostazione del piano di riferimento, riduzione del rumore delle immagini, esportazione di nuvole di punti, smussatura, riduzione dell'altezza e filtraggio dell'intensità.
Quantifica il profilo, il volume, l'area, la differenza tra picco e valle, la rugosità lineare, la rugosità superficiale, la planarità e l'altezza dei gradini.
È ampiamente applicabile nei settori dell'elettronica di consumo, dei semiconduttori, dell'optoelettronica, dell'aerospaziale, degli stampi di precisione, delle nuove energie, dei dispositivi medici, della produzione di orologi, dei componenti automobilistici, della gomma e in molti altri settori.
Copre i test di laboratorio per la ricerca e sviluppo, le ispezioni complete su larga scala e le ispezioni di campionamento in ingresso.
Un'unica macchina consente l'ispezione tridimensionale completa, inclusi le dimensioni 2D, l'altezza 3D, lo spessore, la precisione posizionale, la rugosità e lo spessore dei film.
Il software estrae automaticamente tutti i dati di misurazione in tabelle, calcola gli indicatori di capacità del processo CPK e genera grafici di andamento.
Le immagini multistrato, acquisite a diverse altezze all'interno dello stesso campo visivo, vengono automaticamente messe a fuoco e combinate per generare immagini a profondità sintetica completamente chiare.
Profilo Aziendale
CertificatoTipo di Affari: Produttore/Fabbrica & Società Commerciale CertificatoCapacità di R&S: Servizio ODM Disponibile CertificatoOpzioni di Personalizzazione: Personalizzazione da Campione, Personalizzazione da disegni, etc. CertificatoPorto Più Vicino: Shanghai PortTempo medio di risposta: ≤8.24h
Informazioni sulla Nostra Fabbrica & sul Background Aziendale
IndirizzoFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Area dello Stabilimento3580 Metri Quadrati
Numero di Dipendenti294
Capitale Registrato10,000,000 RMB
Tempo Medio di ConsegnaTempi di Consegna di Alta Stagione: 1-3 Mesi, Tempo di Consegna Fuori Stagione, 1-3 Mesi
Partner della Catena di Fornitura51
La Nostra Capacità Produttiva & Competenza Tecnica
Prodotti PrincipaliMicroscopi digitali, microscopio ottico, 3D microscopio, microscopio laser, profiler, microscopia confocale, interferometro a luce bianca, vibrometro laser Doppler, tester di rugosità senza contatto, vibrometro Doppler
Linee di Produzione4
Macchine di ProduzioneCNC Centre
Ispettori QA/QC8 people
Tipo di Ispezione per Prodotti Finiti100% ispezione(Ispezione visiva & Ispezione funzionale)
Metodo di Ispezione per Prodotti FinitiAvere istruzioni e seguirle uniformemente
R&S Ingegneri56 people
Tracciabilità delle Materie PrimeSì
La Nostra Esperienza del Settore & Il Nostro Storico Commerciale Globale
Mercato PrincipaleNord America, Zuid-Amerika, Europa Orientale, Sud-est Asiatico, Afrika, Oceania, Medio Oriente, Asia Orientale, Europa Occidentale
Nuovi prodotti lanciati nell’ultimo annoSì
Le Nostre Certificazioni, Standard & Riconoscimenti nel Settore
Certificazione del Sistema di GestioneISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Altri
Prodotto Q&A
Q:Quali sono le cinque funzioni principali integrate nel microscopio di precisione multifunzione KM?
A:
Integra cinque funzioni fondamentali: microscopio con profondità di campo ultra elevata, strumento di misurazione delle immagini, analizzatore dello spessore dei film, strumento di misurazione delle coordinate e microscopio confocale.
Q:Qual è la corsa del KM-X5000A?
A:
La corsa della piattaforma XY è di 300 x 200 mm, la corsa dell'asse Z è di 100 mm.
Q:Quali sono i vantaggi della modalità di test rapido con un solo clic per le apparecchiature KM?
A:
Non è necessaria la regolazione della posizione, non è necessario allineare, può essere misurato in modo disordinato, supporta la rilevazione rapida di lotti.
Q:In quali settori possono essere utilizzate le apparecchiature KM?
A:
Adatte per settori come l'elettronica, i semiconduttori, l'automotive, il settore medico, l'orologeria, la meccanica di precisione, la plastica e la gomma.
Q:Qual è la differenza tra le apparecchiature della serie KM e i normali sistemi di imaging?
A:
La serie KM è un dispositivo integrato multifunzione che integra cinque funzioni: microscopio con profondità di campo ultra elevata, strumento di misurazione delle immagini, analizzatore dello spessore dei film, sistema di coordinate tridimensionale e microscopio confocale. Può non solo misurare le dimensioni bidimensionali, ma anche rilevare le strutture tridimensionali, lo spessore dei film, la morfologia superficiale e la rugosità; i normali sistemi di imaging di fascia bassa possono misurare solo le dimensioni piane con funzioni semplici, bassa precisione e scarsa scalabilità.
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